菲希尔测厚仪枣庄测厚仪正业科技进口测厚仪

菲希尔X射线荧光测厚仪XAN 菲希尔X射线荧光测厚仪XAN产品是一款分析仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。 我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。 面铜测厚仪 菲希尔手持面铜测厚仪属于一款无损，便用携带的测厚仪，它无损、快速、并且不会受到背面铜层的影响。特别适用于测量多层或是较薄的板材上的铜厚，因为该测量法了两面相对的铜层不会相互影响测量结果。 面铜测厚仪技术参数： 量程：0-120um 精度： > 5 - 50 μm: ± 0.5 μm 50 - 80 μm: ≤ 1 % of value 80 μm: ≤ 2 % of value 测试面积：10*15mm 菲希尔X射线荧光测厚仪X-RAY 4000 菲希尔X射线荧光测厚仪X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。 我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。