分辨率高,抗干扰能力强
窄的光束和短的脉冲宽度,不仅使横向和纵向目标分辨率大大提高,而且不受电磁干扰和地波干扰,例如在导弹的初始阶段,微波测距由于严重的地波干扰而不能使用,激光测距却能得心应手[4]。
相位式激光测距多测尺原理
在各类型的长、中、短程测距仪中,为了实现远距离和的相位测量,可以使用测尺长度不同的几把光尺(类似于钟表的时分秒三个指针配合使用,测量时间的),在这组测尺中,短的测尺必要的测距精度,而较长的测尺用于相位测距的量程。目前,在相位式激光测距中,采用的测距技术选定方式有两种:分散的直接测尺频率方式和集中的间接测尺频率方式。
采用差频测相就是将高频信号变到携带相同的相位信息的低频信号,然后对该低频信号进行测相。在频率降低后,信号的周期扩大,这样的就大大提高了测相的分辨率,即提高了测相精度。同时,多个测尺频率转换为统一低频信号测相后,对接收机的频响要求降低,即对不同的调制频率,其接收信号差频后的滤波放大频率始终固定,这样有利于接收机获得高增益与高选择性。
在测距仪内一路主振信号经过激光器调制发射出去, 经待测目标反射回来,再由光电器件转成电信号, 与本振信号送入混频器差频成低频或中频信号, 这一路信号称为测量信号。另一路的主振和本振直接送入混频器差频出相同频率的低频或中频信号, 称为参考信号,比较两路信号的相位差
探测度D以及归一化探测度D*:D的定义为NEP的倒数,D的单位为W-1,从上式可以看出,NEP表示探测器的小可探测的功率,其值越小越好。而D则表示探测器的能力,其值越大越好。
仿真结果及分析
本设计采用Proteus仿真软件对相位式激光测距仪接收电路中的高压发生电路、自动增益控制电路进行仿真,分别检测高压发生电路能否产生120—160V的高压;自动增益控制电路能否对输入信号的幅度进行自动控制。