日本电测dengsoku便携式膜厚仪，测薄膜，金属涂层等厚度QNIx系列

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便携式膜厚仪，可轻松提高麻烦的膜厚测量的生产效率

QNIx系列产品允许您仅使用超轻型紧凑型仪器和探头即可测量薄膜厚度，而无需携带笨重的薄膜厚度计。
无线测量无需电缆。它有助于将测量数据传输到PC，也有助于防止测量过程中掉落事故。

无需进行膜校准即可进行的膜厚度测量

出厂时输入了16点校准数据。这样就无需进行麻烦的薄膜打样工作，并且可以进行的薄膜厚度测量。

膜厚测量数据传输的新技术

在传统的测量仪器中，测量仪器通过电缆连接到个人计算机以传输测量数据。QNIx系列使用“无线加密狗”，只需将其插入USB端口即可进行传输。您可以更快，更轻松地浏览测量数据。

超轻便的无线测量仪

探头测得的数据被无线发送到主机。它降低了被电缆卡住，像传统产品一样妨碍或导致跌落事故的风险。此外，该探头重30克，非常轻巧，因此您无需携带笨重的仪器。

一种不易折断且不会在测量对象上留下痕迹的探针。

QNIx系列探头被增强塑料包围，性提高了30％。即使发生极少数的故障，拆卸和维修也很容易，因此缩短了维修时间。此外，它配备有红宝石芯片，可以安全地进行测量，而不会损坏要测量的对象（样品）。

	QNIx 8500	QNIx 4500/4200	QNIx 7500	QNIx Carcheck系统	QNIx方便
可测量的电影	[F]黑色金属上的非磁性涂层 [N]黑色金属上的非导电涂层 [FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非导电涂层			[FN]黑色金属和有色金属材料上的非磁性和非导电涂层	[FN]铁/铝材料上的非磁性/非导电膜厚度
材料识别	黑色金属和有色金属的自动识别和交换	黑色金属和有色金属的自动识别和交换	用户的转换	黑色金属和有色金属的自动识别和交换	铁/有色，自动识别模式转换
测量原理	[F]磁通量（霍尔效应） [N]涡流
测量范围	0至2,000μm （可选：5,000μm）	0至3,000μm	0至2,000μm （可选：5,000μm）	0至5,000μm	0〜500微米
高分辨率	0.1μm，1μm [M] 0.01μm	1微米	0.1微米	0.1微米，1微米	5微米
配置格式	0点校正用户校准：1 [M] 100	0点校正	0点校正	没有校准功能	没有校准功能
准确度	±（1微米+ 2％） ±3.5％（2毫米或更多） [T] ± （0.3微米+ 2％）	±（2μm+ 3％）	±（1微米+ 3％）	±（1μm+ 2％） ±3.5％（2mm以上）	±（10微米+ 5％）
测量速度	1,500ms （大约40次/分钟） [T] 920ms （大约65次/分钟） [R] 1,600ms （大约37次/分钟）	600ms （约70次/分钟）	1,300ms （约46次/分钟）	1,500ms （约40次/分钟）	600ms （约100次/分钟）

便携式薄膜测厚仪的型号代码指南

[F]黑色金属材料的非磁性膜厚度测量

[N]有色金属材料的非导电膜厚度测量

[FN]用一根探针测量黑色金属和有色金属材料上的膜厚

[T]微型探针

[M]测量数据存储功能，数据传输到PC

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