实谱仪器x射线测厚仪检测仪

探测器系统：
美国Amptek硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比，佳分辨率：140±5eV；新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高，在合金检测中效果好。

防辐射系统：
软硬结合的防辐射设计，三重处理：X光管的特殊辐射处理、样品盖的双层铅皮包裹、软件的辐射预警（仪器工作中人员误操作开启样品腔时仪器会自动全部断电关机，操作人员安全），取得国家规定的辐射安全许可证，辐射剂量低于国家标准。

体系统：
定量分析计算，运用理论Alpha系数法(NBS-GSC法) 、集成FP法、经验系数法，针对各元素的测试，多次测量重复精度小于0.1%；多种语言操作界面，操作简单，一键式设计，可生成各种人性化定制报告，能够自动输出PDF,EXCEL等报告格式。