CNAS资质第三方检测机构形貌和成分分析

扫描电镜分析（SEM+EDS)可实现金属、陶瓷、半导体、聚合物、复合材料等几乎所有固体材料的表面形貌、断口形貌、界面形貌等显微结构分析，借助EDS还可进行微区元素含量分析

扫描电镜测试的原理是基于电子与样品相互作用产生信号的。在高真空状态下，电子源发射电子束打到样品表面，与样品相互作用后产生各种信号，如散射电子、二次电子、反射电子等。这些信号被探测器收集并转换为电信号，终经处理后形成样品的表面形貌和微观结构图像。

扫描电镜测试的过程包括以下几个步骤：
1）样品准备：根据测试目的选择合适的样品，并进行表面处理，如清洗、干燥等。
2）安装与调试：将样品安装在扫描电镜测试设备的样品台上，并进行设备的调试和校准，以确保测试结果的准确性。
3）数据采集与处理：通过扫描电镜设备采集样品的表面形貌和微观结构图像数据，并对数据进行处理和计算，得到样品的各种参数和性能指标。
4）结果分析与评估：根据测试数据，对样品的表面形貌和微观结构进行分析和评估，包括形貌特征、尺寸分布、晶体结构等。