随着新能源汽车半导体功率电子国产化的发展,广电计量引进国际的测试技术,基于LV/AQG324认证标准,为功率半导体产业上下游企业提供功率模块电学性能检测,材料、器件与系统的可靠性测试以及失效分析。技术带来了验证技术新的挑战,广电计量以LV/AQG324认证试验为基础,积极布局第三代半导体功率模块的可靠性业务领域,助力器件国产化、高新化发展。
测试周期:
2-3个月,提供全面的认证计划、测试等服务
服务内容:
广电计量失效分析实验室功率器件技术团队,拥有丰富的功率半导体器件检测,器件可靠性测试,以及可靠性测试设备设计制造的经验,可为您提供电学参数检测,可靠性测试,失效分析及定制化服务。
产品范围:
适用于MOSFET,Diode,IGBT,第三代半导体器件等元件构成的功率模块。
测试项目:
TST,V,MS,PCsec,PCmin,HTS,LTS,HTRB,HTGB,H3TRB,Lp,Rth,
测试标准:
IEC 60749-25,DIN EN 60068-2-6,DIN EN 60068-2-27,IEC 60749-34,IEC 60749-34,IEC 60749-6,JEDEC JESD-22 A119,IEC 60747-9,IEC 60747-9,IEC 60749-5,IEC 60747-15,DIN EN 60747-15
电源板卡
通讯板卡