工业 CT 系统通常由射线源、机械扫描系统与自动控制系统、探测器系统及数据采集系统、计算机系统、辅助系统等组成 。其中, 核心的原理是:计算机控制射线源发出射线束,数控扫描平台承载被测物体,可以在计算机控制下移动或旋转,平板探测器则负责采集扫描数据;屏蔽设施确保射线不外泄以及扫描过程的安全;后,计算机通过采集到的投影数据重建工业 CT 切片图像,并对图像中存在的缺陷进行分类。
无损检测的目的一般包括:定量掌握缺陷与强度的关系,评价构件的允许负荷以及寿命或剩余寿命;检测在制造过程中产生的结构不完整性及缺陷等情况,以便改善制造工艺。它不仅涉及成品部件的试验评价也与设计、制造工艺直接相关。
无损检测一般有三种简称,即NDT,NDI和NDE。它们分别是无损检测(NondestruetiveTest-ing)、无损检查(NondestruetiveInspection)及无损评价(NondestructiveE、aluation)的英文缩写。目前大都称无损检测为NDT,实际上,近年已逐步从NDT和NDI过渡到NDE,也即用无损评价来代替无损检测和无损检查。一方面是NDE包含厂NDI和NDT;另一方面NDE还具有更广泛的内容,因而要求无损检测