赛特涂层SEM扫描电镜测试X射线能谱分析标准GBT17359

扫描电镜/X射线能谱分析：SEM/EDS(EDX或EDAX) 151 1978 0027（同）胡工

参考标准：
GB/T 17359-1998 （电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则）

试验方法：
将样品进行表面镀铂金后，放入扫描电子显微镜样品室中，使用15 kV的加速电压对测试位置进行放大观察，并用X射线能谱分析仪对样品进行元素定性半定量分析。表面形貌观察及表面无机物成分分析，
EDS分析深度:表面0.3～5μm，成分检出限：0.1%

样品要求：
非水份或不含水份及挥发性物质的固体样品，粉末样品以工程师确认结果而定。尺寸：Max. 4*4*3.5cm

深圳市赛特检测有限公司（简称：STT）先后通过了国际标准IECQ国际电工电子元器件质量评定体系对ISO/IEC 17025实验室运行资质的审核，及ISTA 国际安全运输协会的认可和CNAS中国合格评定国家认可的认可，出具的数据及报告公正、科学、准确、，与所有成员国达成互认。

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