三坐标检测是一种基于坐标测量机的三维测量方法,通过测量工件相对于基准坐标系的位置和形状参数,确定工件是否符合设计要求
校准
校准是提高三坐标检测精度的关键步骤。通过定期校准机器,可以确保机器的各部件处于正确的位置和角度。此外,校准还可以纠正由于机器老化或部件磨损导致的任何偏差。
纳米级扫描电子显微镜(SEM)探索微观世界:扫描电子显微镜利用聚焦电子束在样品表面扫描,激发二次电子等信号来成像,其分辨率可达到纳米级,甚至亚纳米级。在材料科学、生物医学、半导体技术等领域,SEM成为研究微观结构、表面形貌和化学成分的重要工具,为精密量测和科学研究开辟了全新的视角。