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Fluke Ti200 红外热像仪 技术指标

详细的技术指标
温度
温度测量范围（-10°C 以下未校准） -20 °C 至 +650 °C
（-4 °F 至 +1202 °F）
温度测量精度 ± 2 °C 或 2 % （处于 25 °C 额定温度时，取较大值）
屏显发射率校正 是（根据数字和表格）
屏显反射背景温度补偿 是
屏显传输校正 是
成像性能
图像捕获频率 刷新率：9 Hz 或 60 Hz（取决于型号）
探测器类型 200 X 150 像素焦平面阵列，非致冷型微测辐射热计
热敏度 (NETD) 30 °C 目标温度时，≤ 0.075 °C (75 mK)
总像素 30,000
红外光谱带 7.5 μm 至 14 μm（长波）
可视（可见光）照相机 工业性能，500 万像素