山西生产二手ICT

现金求购SMT测试设备和备件：
ICT在线测试仪：德律TRI518FE、TRI518FR、TRI518II、TRI5001T
ATE功能测试仪：安捷伦Agilnt3070 Series3、Agilent3070 Series5
泰瑞达Teradyne TS124LH、Teradyne TS128LH
Teradyne Spectrum8852、8855、8951
PCBA飞针测试仪：TAKAYA7400、8400、9400、9411
ICT测试板卡：德律518系列DC板、AC板、TCB板、HP TESTJET板、开关板
德律5001系列ATM板、DTM板、SMB板、Hybrid Pin car
ATE测试板卡: 安捷伦agilent3070系列
XTP Control card (E9900-66501)
ASRU N Card (N1807-66550)
Hybrid DD pin car (E4000-66550)
泰瑞达Teradynt TS124/128系列 PIN car 、 PIO car、SYSTEM Controoller
9004-0387 Ultra 124L
9004-0386 Ultra 128L
Ultra-2 128 pin 026-001-30
Ultra-2 256 pin 026-101-90

安捷伦：agilent3070 、i1000 、i1000D 泰瑞达：Teradyne TestStation LH 、TestStation LX TAKAYA 测试飞针：ATP-9401、ATP-7400、ATP-1400c..
完善的自检功能，保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份，保障数据无丢失
可测IC（集成电路）插错、插反，管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能，提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术，可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用，可对元器件进行一致性检测
的测试覆盖率和分辨率，可测光电耦合器、电位器、接插件、晶振等器件
波形显示的配合调程，测量值更加合理

ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大，要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高；同时为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。

安捷伦ICT更高的测试效率――硅钉测试/边界扫描速度加快 40% 以上，在测试大部分 PCBA 时总体速度加快 6% 以上
向后兼容性尽量缩短安装所需要的停机时间
泰瑞达系统整合DC、AC、Digital I/O等，信号更稳定；
开机系统初始化，测试精度、稳定度
采用信号全数字滤波处理，测试更方便
自我侦测及输出报告 快速测试，满足各种线体需要
分组块测试模式，成倍提高工作效率，节约投资
采用四针六线测试技术，排除引线电阻及探针接触电阻使微电阻测试稳定
电容极性测试技术，可测试电容极性
多管脚器件测量方式，专测多管脚器件
每步高达5针隔离，对元器件隔离测试
8U结构，轻巧稳固，适应需求
完善的自检功能，保障工作前良好状态
探针接触不良检测并示值
数据自动存盘备份，保障数据无丢失
可测IC（集成电路）插错、插反，管脚开路等故障
自动消除分布电容、接触电阻
数字、图表、曲线等丰富的统计功能，提供改进工艺和质量管理的 数据
全自动放电功能 灵敏的电压感应技术，可测IC引脚漏焊开路、接插件、小电容极性
三极管β测试等技术的使用，可对元器件进行一致性检测

ICT设备的制造厂家各异，全球主要ICT自动测试设备生产厂商主要有Agilent Technologies安捷伦(美国)，Teradyne泰瑞达(美国)、Check Sum（美国）、AEROFLEX（美国）、WINCHY莹琦、Hioki（日本）、IFR(AEROFLEX并购)、Takaya（日本）、Tescon（日本）, Okano（日本）、系统（台湾）、JET(捷智）、TRI（德律）、SRC星河、安硕（ANSO）、Concord、Rohde & Schwarz、Scorpion 、Shindenski、SPEA、Tecnost-MTI、Testronics、WK Test 、Schuhll、Viper、PTI等等品牌。

的在线测试仪实测证明电解电容极性可测率高达100％真正功能价格比的在线测试仪功能、品质的测试技术● 的电解电容极性测试技术可测率高达100％。● 开短路及IC保护二极体之测试程式自动学习生成。● 电脑自动隔离点选择功能，可达10个点。● 多连板程式自动生成功能。● CMOS+RELAY结合的开关板设计，使测试既快又稳定● R.L.C相位分离技术● 杂散电容OFFSET功能● 系统自我诊断功能。● 完整的统计报表功能，资料可自动存储，不因断电而丢失数据。● 对小电阻使用特殊四线式测试模式，可排除探针与电路板之间不稳定接触电阻。● 应用IC Clamping Diode特性，检测IC脚位故障及焊接不良。● 体积小，重量轻，使用灵活，符合高科科技产品轻，薄，短，小的要求
这些特长为寻求更好测试覆盖而不增加测试成本的客户提供了机会。
i1000D包括标准的内建边界扫描测试能力和具有安捷伦新获奖的Cover-Extend Technology的VTEP v2.0加电无矢量测试套件。