常州回收DDR2芯片收购亿光光耦

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不确定性是始终存在的，对误差来源的评估可以帮助确定测量的不确定度。除上述外，还有一些相关术语在依据美国国家标准与技术研究所（NIST）或其它标准机构的说明文件来描绘性能时会有用。可描述性是所有的测量器件有一个共同的基准所的。所谓“规范”是指性能由校准溯源到NIST的测试设备产生。“典型”往往意味着性能是测试，但不包括测量不确定因素。“象征性”的表现通常是补充信息，不是在每个仪器上的普遍测量。