QFN20-3x3-P0.4烧录座

产品简介
A、产品用途:编程座、测试座，对QFN20的IC芯片进行老化、烧写、测试
B、适用封装:QFN20引脚间距0.4mm
C、测试座:QFN20-0.4
D、特点:采用探针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次
E、工作温度：-55℃~155℃    电流：1A max
F、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD

 规格尺寸
A、型号:QFN-20-0.4
B、引脚间距(mm):0.4
C、脚位:20
D、芯片尺寸:3*3mm

产品特点：
Open Top 测试座主要用于各种半导体芯片的的自动烧录等。
可根据客户的需求，如频率，电流，阻抗等，提供合适的材料及测试结构。
测试座的结构可以是open top式的，也可以是ATE机台式。
可根据客户需求定制各种socket尺寸。

产品规格：
测试座材料：　 PEI/PPS/PEEK/Torlon
座头材料：　　 铝合金6061/PEI
探针类型：       弹簧探针POGO PIN
工作温度：　　 -40 ~ 140度
探针机械寿命：  100k次
探针弹力：　　 20g ~ 30g