镀层测厚分析仪

的镀层测厚仪器HeLeeX E8-SPR是一款能量色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF)，与普通EDXRF相比，分辨率高，其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF技术，仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告； E8-SPR采用小光斑设计，多种工作模型供选择，测试数据更，更稳定。
仪器规格：
● 外形尺寸 ：380 mm x 510mm x 365 mm （长x宽x高）
● 样品仓尺寸 ：360mm×330 mm ×50 mm （长x宽x高）
● 仪器重量 ：33.5kg
● 供电电源 ：AC220V/ 50Hz
● 大功率 ：330W
● 工作温度 ：15-30℃
● 相对湿度 ：≤85%，不结露
应用领域：
● 镀层分析：各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Cr、Pd等厚度分析；镀层元素含量分析
● RoHS /ELV指令测试元素：Pb（铅）、Cd（镉）、Hg（汞）、Cr（铬）、Br（溴）
●无卤检测：测试元素：Br（溴）、Cl（氯）；
●合金分析：钢铁、铜类、锌类等成分分析。