产品特点:
Open Top 测试座主要用于各种半导体芯片的的自动烧录等。
可根据客户的需求,如频率,电流,阻抗等,提供合适的材料及测试结构。
测试座的结构可以是open top式的,也可以是ATE机台式。
可根据客户需求定制各种socket尺寸。
※根据客户的具体需求,如频率,电流,阻抗等,提供合适的探针、材料和测试结构,实现客户的测试需求。
※测试座的结构可以根据客户的需求定制,提供浮板设计,提供更好的接触,有效的保护被测芯片,提高测试寿命。
※探针可更换,拆卸简单,便于维护。
※ 支持热拔插,可直接插读卡器与电脑连接测试;
※ 兼容有球无球测试,通用性好,降低使用成本,可根据IC选择不同大小限位框进行更换,实现不同大小IC能够通用;
产品规格:
测试座材料: PEI/PPS/PEEK/Torlon
座头材料: 铝合金6061/PEI
探针类型: 弹簧探针POGO PIN
工作温度: -40 ~ 140度
探针机械寿命: 100k次
探针弹力: 20g ~ 30g