台州振皓表面品质检测设备、表面缺陷检测、工件表面品质检测器

表面缺陷检测的基本原理

　　滤光片中的各种杂质，在光学特性上必然与滤光片本身有差异。当光线入射滤光片后，各种杂质会在反射、折射等方面表现出与周围滤光片不同的异样。例如，当均匀光垂直入射滤光片时，如滤光片中没有杂质，出射的方向不会发生改变，所探测到的光也是均匀的；当滤光片中含有杂质时，出射的光线就会发生变化，所探测到的图像也要随之改变。由于杂质的存在，在其周围就发生了应力集中及变形，在图像中也容易观察。若遇到光透射型缺陷（如裂纹、气泡等），光线在该缺陷位置会发生折射，光的强度比周围的要大，因而相机靶面上探测到的光也相应增强；若遇到光吸收型（如砂粒等）杂质，则该缺陷位置的光会变弱，相机靶面上探测到的光比周围的光要弱。分析相机采集到的图像信号的强弱变化、图像特征，便能获取相应的缺陷信息。
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