天瑞仪器EDX光谱仪镀层测厚仪

用大功率的X射线照射样品，样品可以被激发出各种元素能量的特征荧光X射线，不同元素的特征能量各不相同，通过半导体探测器分别测量不同元素特征能量的X射线的强度，就可以进行定性分析。而样品受激发后发射的某一元素的特征X射线强度与元素在样品中的含量有关，因此通过建立元素与含量的数学模型后，就能对元素进行定量分析。

目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限低可达0.03ppm。其2-3分钟能进行快速筛查，测试小于15分钟对样品的准确测量，射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》，有第三方测试机构出具仪器安全性（辐射计量）测试报告。

天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。
仪器配置电子制冷的半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、立通道散热风路、智能一键测试模块、大面积触控电脑及全自动机械臂进样系统（选配），与以往机型相比，实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时，大大提高了便捷性，可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式，真正的做到了智能自动检测。仪器可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究，从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化学研究、医药食品管控等多行业领域。

产品的特点
1.配置检测系统，提高各项分析性能
半导体探测器，高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合，获得灵敏度。与以往机型相比，重元素检测下限可提升5~10倍，可应对高要求的检测需求。立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性，提升分析结果的可靠性。
2.轻松操作，自动便捷
一体机式设计、一键测试功能、全匹配分析模式确保样品检测一个动作完成。
3.多层防护，安全可靠
软件误操作提醒，仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。