X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线测厚仪的放射源X射线管是电离辐射,当高压关闭后,将无X射线产生,所以安全性较好,无需担心辐射影响。X射线管、冷却系统、高压发生器构成了X射线发射源。X射线管包括一个阴极灯丝和一个阳极靶。加热后的阴极灯丝能够产生电子束,将高压加在阴极灯丝与阳极靶上,电子束撞击钨制的阳极靶产生出连续光谱的X射线。阴阳极间的电势差与阴极灯丝的电流决定X射线的强度。
X射线测厚仪冷却系统包括X光源与检测器的冷却,在日常维护的过程中要测厚仪在正常温度下工作,以防止射线管温度过高,缩短使用寿命。按周期的对测厚仪进行标定,以测量精度。使用环境保持恒温,实验室配备空调。
X荧光镀层测厚仪Thick800A是天瑞集多年的经验,研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本46176万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳市天瑞仪器有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技(仙桃)有限公司五家全资子公司和江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司两家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司*从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
X射线镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域;
技术指标
多镀层分析,1~5层;
测试精度:0.001 μm;
元素分析范围从铝(Al)到铀(U);
测量时间:10~30秒;
SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;
探测器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶);
是一款设计结构紧凑,模块精密化程度的镀层测厚仪,采用了下照式腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品涂镀层检测被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
应用领域
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛;在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,分析贵金属合金组分。除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪,金镍厚度测量仪,孔铜测厚仪,面铜测厚仪,涂镀层测厚仪,台式涂层镀层测厚仪,铜箔测厚仪,绿油测厚仪,油墨测厚仪,各领域的测厚仪。
天瑞仪器能散X荧光光谱仪在合金中的测试精度如何?
答: 测试属于测试,完全可以满足客户的要求
天瑞仪器能散X荧光光谱仪(简称EDXRF)的工作原理是什么?
答: 通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集摄入到被测样品产生次级X射线,也就是通常我们所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后,经过放大,数模转换输入到计算机中,计算机计算出我们需要的结果