X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
X射线测厚仪的放射源X射线管是电离辐射,当高压关闭后,将无X射线产生,所以安全性较好,无需担心辐射影响。X射线管、冷却系统、高压发生器构成了X射线发射源。X射线管包括一个阴极灯丝和一个阳极靶。加热后的阴极灯丝能够产生电子束,将高压加在阴极灯丝与阳极靶上,电子束撞击钨制的阳极靶产生出连续光谱的X射线。阴阳极间的电势差与阴极灯丝的电流决定X射线的强度。
被授予 “*火炬计划高新技术企业”,“江苏省高新技术企业”,“江苏省软件企业”,“江苏省科技创新示范企业”,“江苏省规划布局内软件企业”,“江苏省光谱分析仪器工程技术研究中心”等荣誉称号。X荧光光谱仪系列产品被认定为“*新产品”和“江苏省高新技术产品”。产品品种,为环境保护与安全、工业测试与分析及其它领域提供*解决方案。
X射线镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域;
技术指标
多镀层分析,1~5层;
测试精度:0.001 μm;
元素分析范围从铝(Al)到铀(U);
测量时间:10~30秒;
SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;
探测器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶);
是一款设计结构紧凑,模块精密化程度的镀层测厚仪,采用了下照式腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品涂镀层检测被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm