X荧光光谱仪的工作原理基于X射线照射样品时所产生的荧光现象。当一束X射线照射到样品表面时,样品中的原子会吸收X射线能量,这使得一些内层电子被激发并从原子中释放。为了恢复稳定状态,这些原子会从外层电子中捕获电子,释放出特定波长的荧光X射线。这些荧光X射线的波长和强度与样品中元素的种类和数量密切相关,因此可以通过分析荧光X射线来确定样品的成分及其含量。
无需样品前处理:与其他分析方法相比,XRF不需要耗时的样品准备过程,可以直接对固体、液体和粉末等多种形态的样品进行分析。
快速分析:XRF技术能够在短时间内提供的分析结果,相比传统的化学分析方法,其分析速度有显著优势。
高灵敏度和准确度:现代XRF仪器具有的灵敏度,能够检测到ppm(百万分之一)级别的元素含量,并且可以同时分析多种元素。
非破坏性检测:样品在测试过程中不受损害,这使得XRF非常适合于贵重物品或易碎材料的分析。
应用新一代的高压电源和X光管,提高产品的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。
下照式:可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用
移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点
高分辨率探测器:提高分析的准确性