吉时利4200-SCS半导体参数分析仪keysight4200A-SCS参数分析仪

产品概述KEITHLEY 4200-SCS

Keithley 4200-SCS 半导体特性分析系统可执行实验室级直流和脉冲器件特性分析、实时绘图和分析，具有和亚飞米至安培分辨率。Keithley 4200-SCS 提供全集成特性分析系统中的功能，包括一台完整的嵌入式 PC，配有 Windows 操作系统和大容量存储器。其自文档化、点击式界面可加快和简化数据采集过程，因此用户可以更快地开始分析结果。其他功能可实现适用于各种可靠性测试的应力测量功能，并通过 LCR 仪表支持提供测量和高分辨率。

Keithley 4200 系统的功能包括：

• 直观的、点击式的基于 Windows 的环境

• 特的远程前置放大器将 SMU 的分辨率扩展至 0.1fA

• CV 仪器使 CV 测量变得像 DC IV 一样简单

• 脉冲和脉冲 IV 功能，适用于的半导体测试

• 示波器卡提供集成的示波器和脉冲测量功能

• 立的 PC 提供快速的测试设置、强大的数据分析、绘图和打印以及板载海量存储测试结果

• 特的浏览器样式项目导航器按设备类型组织测试，允许访问多个测试，并提供测试排序和循环控制

• 内置压力/测量、循环和数据分析，用于点击可靠性测试，包括五个符合 JEDEC 标准的样本测试

• 集成对各种 LCR 表、Keithley 开关矩阵配置以及 Keithley 3400 系列和 Agilent 81110 脉冲发生器的支持

• 包括分析探测器的软件驱动程序