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AT-01在线测试仪 Frame Scan&Delta Scan的概要 结构扫描和三点扫描是由美国泰瑞达公司开发的技术，是为了检测生产过程中发生的包括IC接脚的虚焊，冷焊在内的各种复杂不佳现象开发而成的*技术。随着SMT IC的普及应用，各种封装模式由原来的插件形式改为PGA，BGA和CSP形式，快速的向电路板部件高密集化发展。AT-01就是为了适应上述技术变化，特别装载了美国泰瑞达公司的结构扫描和三点扫描，使其技术的融合到AT-01，做到了测试速度快，性价比测试结果稳定等特点的值得您信赖的在线测试仪。 AT-01在线测试仪

AT-01在线测试仪 三点扫描的特点 1.无须另外追加硬件治具 2.无部件封装模式的限制 3.可检测出含冷焊在内的各种故障 4.对尺寸大的数字部件特别有效 5.测试速度快，检测率高 AT-01在线测试仪

AT-01在线测试仪 边缘扫描测试 测试基板的*新技术标准 IEEE Standard 1149.1Flash记忆棒安装在PCB的状态下利用JTAG(Boundary-Scan 1149.1)测试对IC进行短路检查，PCB光板测试等基本项目与IC内部程序测试。 AT-01在线测试仪