故障分析:对于飞机或其他航空器出现的故障,SEM+EDS可以用于分析故障原因。例如,当飞机出现腐蚀、疲劳或机械损伤等问题时,SEM可以观察到这些缺陷的微观形貌,而EDS可以分析缺陷部位的元素组成。这有助于确定故障的源头和原因。SEM+EDS分析是一种组合技术,结合了扫描电子显微镜(SEM)的高分辨率成像和能量散射光谱仪(EDS)的元素分析能力,适用于各种固体材料的表面形貌和成分分析。在SEM+EDS分析中,可以通过调整电子束的加速电压、束流强度等参数,优化成像效果和元素分析的准确性。
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