天瑞仪器X-ray测厚仪,x射线测厚仪服务至上

X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

X射线镀层测厚仪广泛应用于镀银、镀镍、镀金、镀锌等，广泛应用于电子电器、高压开关、电网镀银产品、汽车配件
五金工具、PCB板、半导体封装、电子连接器等，天瑞仪器售后服务方便，维护成本低。

是一款设计结构紧凑，模块精密化程度的镀层测厚仪，采用了下照式腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品涂镀层检测被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。