IGBT模块AQG324认证，AECQ101认证全标准解读-广电计量实验室

广州广电计量功率模块LV/AQG 324认证、AECQ101试验介绍
随着新能源汽车半导体功率电子国产化的发展，广电计量引进国际的测试技术，基于LV/AQG324认证标准，为功率半导体产业上下游企业提供功率模块电学性能检测，材料、器件与系统的可靠性测试以及失效分析。技术带来了验证技术新的挑战，广电计量以LV/AQG324认证试验为基础，积极布局第三代半导体功率模块的可靠性业务领域，助力器件国产化、高新化发展。

测试周期：
2-3个月，提供全面的认证计划、测试等服务

服务内容：
广电计量失效分析实验室功率器件技术团队，拥有丰富的功率半导体器件检测，器件可靠性测试，以及可靠性测试设备设计制造的经验，可为您提供电学参数检测，可靠性测试，失效分析及定制化服务。

产品范围：
适用于MOSFET，Diode，IGBT，第三代半导体器件等元件构成的功率模块

测试项目：
TST，V，MS，PCsec，PCmin，HTS，LTS，HTRB，HTGB，H3TRB，Lp，Rth，

测试标准：
IEC 60749-25，DIN EN 60068-2-6，DIN EN 60068-2-27，IEC 60749-34，IEC 60749-34，IEC 60749-6，JEDEC JESD-22 A119，IEC 60747-9，IEC 60747-9，IEC 60749-5，IEC 60747-15，DIN EN 60747-15

AECQ101
测试周期：
2-3个月，提供全面的认证计划、测试等服务

服务内容：
广电计量失效分析实验室AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更、更可靠的AEC-Q认证试验服务。

产品范围：
二、三极管、晶体管、MOS、IBGT、TVS管、Zener、闸流管等半导体分立器件

覆盖的测试标准

AEC-Q001 零件平均测试指导原则
AEC-Q002 统计式良品率分析的指导原则
AEC-Q003 芯片产品的电性表现特性化的指导原则
JEDEC JESD-22 封装器件可靠性测试方法
MIL-STD-883 微电子测试方式和程序
GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序
EIA -469 破坏性的物理分析
MIL-STD-202 电子和电气元器件测试方法
J-STD-002 可焊性规格
MIL-PRF-27 电感/变压器测测试方法
JESD22-A121 测量锡及锡合金表面涂层的锡须生长的测试方法