激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变,相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化,进而可计算出被测物体的实际移动距离。
起初广泛使用的厚度测量工具是卡尺、螺旋测微器、测厚表等,但随着科技的进步、社会的发展,常用的测厚方法有射线测厚法、超声波测厚法、光学测厚法、机械测厚法等,虽然厚度检测方法众多,但从综合程度上看,在线测厚系统更多的还是采用激光测厚仪。
可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量, 具有非接触测量、不损伤物体表面、无环境污染、抗干扰能力强、精度高、数据采集、处理功能全等特点,已成为我国工业生产线产品质量控制的重要设备。采用激光测量法,连续对被测物进行非接触、无损伤厚度测量,采样速度快精度高,性能稳定,操作简单,可设定测值上下限,超出界限值时主机自动报警。对板材、带材进行非接触、连续、快速在线测量。适用于冷轧带钢、铜、铝和其他金属材质的带材、箔材及玻璃、橡胶等非金属板材厚度测量。并可输出厚差信号,参予闭环调节,实现厚度的自动控制。
X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源,根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度,它的特点是放射物质能量低,无需使用许可证,测量精度高,可测量透明或不透明材料,不受添加剂和色母料的影响,不受环境温度和薄膜抖动影响。
薄膜测厚仪根据程序预先设定的计算公式,通过组合不同的标样厚度并将其置于射线下测量,以得到一组基准数据,并存于PLC中。
薄膜测厚仪由于工作现场环境复杂,系统工作一段时间后由于各种因素的干扰,系统会产生基准漂移。这时通过系统效验模块可以修复这种漂移,以系统测量的准确性