性能参数
产品型号:EDX 4500
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:60秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然
半导体行业从原材料到生产制造都需要应用到分析测试仪器。天瑞仪器作为国内化学分析行业的者,从事光谱仪、色谱仪、质谱仪和环境检测仪器四大系列分析测试仪器的研发、生产、销售与服务。公司产品丰富,可广泛应用于芯片材料检测与质量控制。此次,天瑞仪器展出产品呈现了其在半导体材料领域的技术应用,吸引了多方关注,为半导体产业链的安全提供了技术和产品的保障。