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晶体振荡式露点仪原理

利用晶体沾湿后振荡频率改变的特性,可以设计晶体振荡式露点仪。晶体振荡式露点仪的敏感元件是水感性石英晶体,它是在石英晶体表面涂覆了一层对水敏感 (容易吸湿也容易脱湿)的物质。当湿性样品气通过石英晶体时,石英表面的涂层吸收样品气中的水分,使晶体的质量增加,从而使石英晶体的振荡频率降低。

红外露点仪原理原理

利用气体中的水份对红外光谱吸收的特性,可以设计红外式露点仪。
半导体传感器
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每个水分子都具有其自然振动频率,当它进入半导体晶格的空隙时,就和受到充电激励的晶格产生共振,其共振频率与水的摩尔数成正比。水分子的共振能使半导体结放出自由电子,从而使晶格的导电率增大,阻抗减小。新能源公司仪器外校

可燃气体报警器及所有的防爆电气设备均是以能适用于危险场所为目的进行设计的,由于电气设备的种类设备使用环境中的气体或蒸气的种半导体传感器
每个水分子都具有其自然振动频率,当它进入半导体晶格的空隙时,就和受到充电激励的晶格产生共振,其共振频率与水的摩尔数成正比。水分子的共振能使半导体结放出自由电子,从而使晶格的导电率增大,阻抗减小。利用这一特性设计的半导体露点仪可测到-100℃露点的微量水份。
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扫描电子显微镜(SEM)是一种大型精密仪器,它利用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜,使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像。在1932年,Knoll提出了扫描电子显微镜(SEM)可以用于成像放大的概念,并在1935年成功制造出了非常原始的模型。然而,由于不能获得高分辨率的样品表面电子像,SEM一直未能得到进一步发展,仅被用作电子探针X射线微分析仪中的辅助成像装置。

直到1938年,德国科学家阿登纳成功研制出台采用缩小透镜用于透射样品的SEM。此后,在众多科学家的努力下,SEM从理论到仪器结构等方面的问题逐渐得到解决。
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1965年,英国剑桥仪器公司生产的台SEM作为商品出现,它采用二次电子成像技术,分辨率为25纳米,使SEM进入了实用阶段。

1968年,Knoll在美国芝加哥大学成功研制出场发射电子枪,并将其应用于SEM,获得了较高分辨率的透射电子像。1970年,他发表了用扫描透射电镜拍摄的铀和钍中的铀原子和钍原子像,这使SEM又进入了一个新的领域。

2021年,全数字化扫描电子显微镜新品在无锡惠山发布,标志着SEM技术的不断发展和进步。

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