超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
测厚仪产品特性:
1、进口传感器,了测试精度;
2、严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制;
3、测量头自动升降,避免了人为因素造成的系统误差;
4、手动、自动双重测量模式,更方便客户选择;
5、配备微型打印机,数据实时显示、自动统计、打印,方便快捷地获取测试结果;
6、打印值、小值、平均值及每次测量结果,方便用户分析数据;
7、仪器自动保存多100组测试结果,随时查看并打印;
8、标准量块标定,方便用户快速标定设备;
9、测厚仪配备自动进样器,可一键实现全自动多点测量,人为误差小;
10、技术化的软件提供测试结果图形统计分析,准确直观地将测试结果展示给用户;
11、配备标准RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输。
台式x射线测厚仪可测量:单一镀层:Zn,Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和饰加工行业;银行、饰销售和检测机构;电镀行业。
快速、的分析:
大面积正比计数探测器和50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供灵敏度
简单的元素区分:
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
性能优化,可分析的元素范围大:
预置800多种容易选择的应用参数/方法
的长期稳定性:
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果
例行进行简单快速的波谱校准,可自动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正
坚固的设计
可在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
x射线测厚仪是一种检测仪器,以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度。
x射线测厚仪是一种,以和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度,已达到要求的轧制厚度。
用户操作终端
用户操作终端包括一个的计算机和高分辨率的彩色。可显示整个系统的检测、设定、偏差值;用户通过软件显示页面可直接控制和操作测厚仪。主操作页显示正常操作所需的各种数据。维护页面显示系统正常工作时各种参数高压反馈、管电流、灯丝电流、射线源温度等。一些与用户质量有关的重要数据如厚差曲线、厚度与长度关系曲线均可打印。技术员能很容易地通过操作终端的报表打印功能,打印出来以显示可用信息。
冷却系统
本系统配备有冷却装置,该装置的关键部件,压缩机组均采用进口原装组件,具有可靠性高、噪音小、控温精度高,等特点。通过C型架上进出油口进行冷却。了关键部件的使用寿命。
很多金属制品以及合金饰品都会进行电镀,但是对于电镀的厚度是需要用进行测量的,合格的产品才会被销往市场上,目前国产镀层测厚仪已经发展的比较完善,现在国产镀层测厚仪的种类也是非常多的,那么国产镀层测厚仪使用时需要注意什么:
1、基体金属特性:对于磁性方法,国产镀层测厚仪的标准片应该与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似,所以在使用的时候国产镀层测厚仪的标准片应该具备基体金属特性这个方面;
2、基体金属厚度:国产镀层测厚仪在使用之前要检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,进行校准后可以测量;
3、边缘效应:不应在紧靠试件的突变处,使用国产镀层测厚仪的时候不应该在边缘、洞和内转角等处进行测量;
4、曲率:对于曲率的测量,不应在试件的弯曲表面上测量,使用国产镀层测厚仪的时候这一点是非常重要的,曲率的测量并不是简单的弯曲表面测量;
5、读数次数:通常国产镀层测厚仪器的每次读数并不完全相同,因此在每一测量面积内取几个读数,覆盖层厚度的局部差异,也要求国产镀层测厚仪在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此;
此外测量的时候还需要注意被测量物品的表面清洁度,测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,国产镀层测厚仪测量时周围没有任何的磁场干扰,因为磁场的干扰程度也会影响国产镀层测厚仪的时候,此外还应该注意国产都城测厚仪的测头取向,测头的放置方式对测量有影响,在测量时应该与工件保持垂直。
镀层测厚仪关键有以下功能优点:
1、测量速度快,具有单次和连续2种测量方式可选择;
2、精度高 ,自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质;
3、镀层测厚仪稳定性高,操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示;
4、功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法:覆层厚度的测量方法关键有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。